欧美日韩一区二区不卡-日韩欧美亚洲不卡视频-久久 亚洲 一区二区-精品日韩欧美二区三区-欧美乱淫一级视频

熱門搜索:掃描電鏡,電子顯微鏡,細(xì)胞成像分析
技術(shù)文章 / article 您的位置:網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 > 鋰電清潔度分析:從光鏡到電鏡(下)

鋰電清潔度分析:從光鏡到電鏡(下)

發(fā)布時(shí)間: 2023-11-23  點(diǎn)擊次數(shù): 2181次

為什么要做鋰電清潔度分析?

金屬異物(包括鐵、鎳、銅、鋅、鉻等。)在鋰離子電池的正極材料中的含量對(duì)鋰電池的性能有很大的影響。在電池化成階段,金屬異物會(huì)先在正極氧化再到負(fù)極還原。當(dāng)負(fù)極中的金屬單質(zhì)積累到一定程度時(shí),會(huì)形成枝晶,導(dǎo)致隔膜穿孔,導(dǎo)致電池內(nèi)部短路,提高電池的自放電率。嚴(yán)重時(shí)甚至電池起火爆炸,影響電池的安全性能。目前,金屬異物的控制水平已經(jīng)成為衡量鋰離子電池正極材料生產(chǎn)線的核心指標(biāo)之一。

鋰電池清潔度分析的意義,一方面是對(duì)清潔度的水平進(jìn)行評(píng)估,另一方面,希望通過對(duì)金屬顆粒的分析,確定其產(chǎn)生原因,并回溯至對(duì)應(yīng)的生產(chǎn)工序,進(jìn)行針對(duì)性的管控,從而提升產(chǎn)線的清潔度水平。

相較于光鏡在鋰電池清潔度分析方面的缺點(diǎn),基于掃描電鏡的全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)ParticleX Battery ,可實(shí)現(xiàn)雜質(zhì)顆粒的形態(tài)和數(shù)量分析、區(qū)分雜質(zhì)顆粒的種類(如鐵類、銅類)等,并且可以實(shí)現(xiàn) 7x24h 不間斷工作。

在介紹全自動(dòng)鋰電清潔度分析方案之前,先簡(jiǎn)單介紹下掃描電鏡的檢測(cè)原理

掃描電鏡檢測(cè)的原理

簡(jiǎn)單來說,掃描電鏡是用于樣品微區(qū)形貌、結(jié)構(gòu)及成分的觀察和分析的儀器。電子槍發(fā)射的電子束在掃描電鏡鏡筒中,通過電磁透鏡聚焦和電場(chǎng)加速,入射到樣品表面,電子束與樣品原子核或核外電子發(fā)生多種相互作用,從而產(chǎn)生各種反映樣品特征的信號(hào)。這些信號(hào)包括:二次電子、背散射電子、X 射線等。其中,二次電子和背散射電子被相應(yīng)的探頭接收,即可獲得形貌信息;X 射線被能譜探頭接收并分析,即可獲得成分信息。

 

 

以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ),通過軟件系統(tǒng)控制,即可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)對(duì)各類雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì),并一鍵生成檢測(cè)報(bào)告。

鋰電清潔度分析測(cè)試結(jié)果如下:

a) 各類金屬異物統(tǒng)計(jì)結(jié)果

b) 測(cè)試結(jié)果合格與否自動(dòng)判定

 

c) 各類異物平均成分含量

 

d) 特殊異物詳細(xì)信息‍‍‍‍‍

 

光鏡與電鏡在清潔度分析領(lǐng)域的對(duì)比分析

 

 

全自動(dòng)電鏡清潔度分析系統(tǒng)案例:

通過自動(dòng)檢測(cè)找到如下顆粒,其主要成分為 Fe-Si-Ti-O。一鍵回到該顆粒位置,采集高清圖像,該顆粒在形態(tài)上呈層片裝。進(jìn)一步對(duì)該顆粒做能譜面掃描分析,結(jié)果顯示,Ti 元素集中在顆粒的右側(cè)下層。據(jù)此推測(cè),該顆粒為 Ti 的涂層由于摩擦或沖擊脫落形成。

 

ParticleX Battery

全自動(dòng)電鏡清潔度分析系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)

3.1 軟硬件一體化設(shè)計(jì)制造,運(yùn)行更流暢

3.2 7×24 小時(shí)連續(xù)運(yùn)行,無人值守

3.3 快速獲取清晰圖像,兼顧效率與質(zhì)量

3.4 更高的自動(dòng)化程度

3.5 更完善的分析鋰電清潔度數(shù)據(jù)庫,更靈活的分類規(guī)則

3.6 更豐富的測(cè)試報(bào)告格式

3.7 適應(yīng)各類復(fù)雜環(huán)境

  • 不需要單獨(dú)的房間,一張桌子就足夠

  • 不需要外加防震裝置,內(nèi)置防震系統(tǒng),可以放置于車間環(huán)境,也可以放置于高樓層

  • 不需要外加防磁裝置,內(nèi)置磁屏蔽,無需進(jìn)行場(chǎng)地測(cè)試和場(chǎng)地改造

  • 不需要專業(yè)技術(shù)人員,簡(jiǎn)單培訓(xùn)即可操作

  • 方便搬運(yùn)和移動(dòng),遇到實(shí)驗(yàn)室搬遷等,可以快速搬運(yùn),并經(jīng)過簡(jiǎn)單組裝即可使用

  • 聯(lián)系電話電話4008578882
  • 傳真傳真
  • 郵箱郵箱cici.yang@phenom-china.com
  • 地址公司地址上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路88號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng)T5,705室
© 2024 版權(quán)所有:復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司   備案號(hào):滬ICP備12015467號(hào)-5   sitemap.xml   管理登陸   技術(shù)支持:制藥網(wǎng)       
  • 公眾號(hào)二維碼

聯(lián)